Communication science et technologie
Volume 10, Numéro 1, Pages 93-101
2012-01-01

Detection Des Defauts Dans Les Circuits Analogique Avec La Methode De La Densite Spectrale De Puissance (dsp)



Auteurs : Wadie Bachir Bouiadjra Bouiadjra .

Résumé

Résumé : Dans la vie quotidienne, plusieurs nouveaux domaines sont devenus très importants, tels que les télécommunications, le multimédia, les applications biomédicales, etc. Ces domaines utilisent beaucoup les circuits intégrés analogiques et mixtes. Tester ces derniers a un impact considérable sur le coût de production. En outre, la tendance d’intégrer des systèmes analogiques et numériques complets sur une seule puce pose de très sérieux problèmes d’accès au test. Nous proposons une méthode simple basée sur la comparaison des densités spectrales de puissance (DSPs). Cette méthode de test, basée sur la signature de la densité spectrale de puissance du signal de sortie du Circuit Sous Test (CST), donne de bons résultats quant à la détection des défauts dans le CST. Elle peut être implantée sur les systèmes SOC (System On Chip) moyennant un générateur de bruit numérique intégré.

Mots clés

Test, DSP, SOC, estimation, intervalle de confiance, défauts

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